半导体器件建模与测试实验教程——基于华大九天器件建模与验证平台XModel
作者：杜江锋
其他责任人：杜江锋
出版日期：2025-01-01
出版社：电子工业出版社
页数：222
中图分类：工业技术->无线电电子学、电信技术->半导体技术->结构、器件
出版社分类： 科技->电子技术->微电子、集成电路、显示技术
￥52.20（
9.00
折）定价：￥58.00
- 简介
- 目录
- 更多信息
本教程在简要介绍MOSFET场效应晶体管器件结构和工作原理的基础上，全面叙述了MOSFET基本电学特性和二阶效应；介绍了MOSFET器件模型及建模测试结构和方案设计；给出了MOSFET BSIM模型参数提取流程；介绍了半导体器件SPICE模型建模平台Empyrean XModel，深入介绍了XModel的基本功能和界面；介绍了MOSFET器件电学特性测试平台、测试模式和测试流程；分别介绍了MOSFET器件电学特性如C-V、转移特性和输出特性的测量方法；深入介绍了MOSFET模型参数提取的实验步骤和使用流程；介绍了MOSFET射频模型参数提取方法和使用流程；并介绍了GaN器件模型参数提取方法和使用流程。
相似电子书
-
金加龙,金加龙
-
金加龙,金加龙
